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BS-INT-2000反射率測(cè)試儀
BOSON的BS-INT-2000型反射率測(cè)試儀，采用集成式的微型光譜儀，并集成積分球光源，可對(duì)平面樣品（如硅晶片，鍍膜表面，油漆，紙張，布料等）進(jìn)行反射率測(cè)試。
BS-INT-2000型反射率測(cè)試儀內(nèi)部采用了集成式的微型光譜儀，沒有固定式光學(xué)元件，穩(wěn)固可靠，光學(xué)精度不受移動(dòng)影響，體積小巧，可以在各種環(huán)境中使用。
測(cè)試儀采用了高穩(wěn)定性的鹵鎢燈光源，穩(wěn)定的電源輸出保證了光譜的穩(wěn)定性，有效的提高了測(cè)試精度。使用積分球測(cè)量方式，提供均勻的照射光斑，進(jìn)一步提高了測(cè)試的精確性，可以適用于多種類型的樣品。反射率測(cè)試儀整體采用8度角的設(shè)計(jì)，符合CIE的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
特點(diǎn)：
- 測(cè)試波長(zhǎng)范圍350-1000nm。
- 采用積分球鹵鎢燈光源，可以得到更加均勻的輸出光。
- 反射率范圍0-99%。
- 系統(tǒng)為集成化模塊，使用中只需將設(shè)備連接電腦即可使用。
- 操作簡(jiǎn)便
- 易于攜帶
- 儀器終生保修。
技術(shù)參數(shù)
探測(cè)器范圍 |
200-1100 nm |
可用范圍： |
350-1000 nm |
像素： |
3648 pixels |
像素尺寸： |
8 μm x 200 μm |
信噪比： |
250:1 |
積分時(shí)間： |
10ms-10s |
像素分辨率： |
~ 0.18 nm |
光學(xué)分辨率： |
~ 1.5 nm (半峰寬) |
積分球直徑： |
3英寸 |
樣品孔直徑： |
12.2 mm |
積分球涂層反射率： |
>99% |
光源光譜范圍： |
350-2500nm |
光源壽命： |
5000小時(shí) |
可測(cè)量參數(shù)： |
波長(zhǎng)反射率，總反射率，反射顏色xy, XYZ, Lab 等 |
計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)： |
USB 接口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux |
計(jì)算機(jī)接口 |
USB 2.0 @ 480 Mbps (兼容USB1.1) |
外形尺寸： |
11cm(長(zhǎng)) × 7(寬) × 19cm(高) |
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線陣CCD光纖光譜儀
